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PHI MultiPakを使ったESCA化学状態別定量
PHI Quantera SXM: 試料冷却オプション
C60スパッタイオンガンを用いたポリマー表面上の添加剤層の薄膜解析
PHI Quantera SXM: ゲート絶縁膜のXPSによる評価
PHI Quantera SXM: 極薄膜のXPSスパッタデプスプロファイリング
PHI Quantera SXM 走査型X線光電子分光分析装置
多目的試料前処理チャンパーの製作例
PHI 06-C60 C60スパッタイオン銃パッケージ

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