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〔 SIMS 〕 アプリケーション


PHI TRIFT V nanoTOF / PHI ADEPT-1010 アプリケーション

PHI TRIFT V nanoTOF / PHI ADEPT-1010 の機能や応用例などのご紹介です。

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TOF-SIMS
PHI TRIFT V:断面試料の全面マップ
  PHI TRIFT V:C60+イオンを用いたミクロンスケールでの分子イメージング
  C60+イオンを用いた大面積モザイクイメージング
  PHI TRIFT V:
天然ゴム-臭素化ブチルゴム界面のケミカルイメージング
  薬物コーティングの3Dイメージング
  金属クラスターイオンを用いた薬剤断面のTOF-SIMS観察
  PHI TRIFT V:ポリマー深さ方向分析におけるC60イオン入射角度依存性
  PHI TRIFTⅣ:飛行時間型二次イオン質量分析装置
  TRIFT Ⅲ:AlQ3(有機EL材料)の分析
D-SIMS
  PHI ADEPT-1010:GaAs中軽元素の日常業務における検出下限
  PHI ADEPT-1010:SIMS分析の長期間安定性
  PHI ADEPT-1010:Si中軽元素の日常業務における検出下限

飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS) PHI TRIFT V nanoTOF 製品ページへ
四重極型二次イオン質量分析装置 (D-SIMS) PHI ADEPT-1010 製品ページへ

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