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四重極型二次イオン質量分析装置 (D-SIMS) PHI ADEPT-1010 製品ページへ
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PHI TRIFT V nanoTOF / PHI ADEPT-1010 アプリケーション
PHI TRIFT V nanoTOF / PHI ADEPT-1010 の機能や応用例などのご紹介です。
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| PHI ADEPT-1010:GaAs中軽元素の日常業務における検出下限 | ![]() |
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| PHI ADEPT-1010:SIMS分析の長期間安定性 | ![]() |
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| PHI ADEPT-1010:Si中軽元素の日常業務における検出下限 | ![]() |
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