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2008年参加予定イベント



当社主催イベントのお知らせです。

毎年多くのユーザー様にご好評を頂いております【アルバック・ファイ ユーザーズミーティング】 を
下記のように本年度も開催致します。

 
日時・会場

【SIMS】
11月27日(木)  九段会館 (東京)  http://www.kudankaikan.or.jp/
【AES】
12月 8月 (月)  九段会館 (東京)  http://www.kudankaikan.or.jp/
【ESCA】
12月 9日 (火)  九段会館 (東京)  http://www.kudankaikan.or.jp/
講演募集も行います。 ユーザー発表をご希望の方は下記連絡先までお問い合わせ下さい。
  ※イベントの詳細は決定次第、ダイレクトメール 及び ウェブサイト にてご案内致します。
問い合わせ

アルバック・ファイ 市場開発部 マーケティング室   
TEL:0467-85-9469 (市場開発部直通)  



当社参加予定講演会および展示会一覧です。

【2008 分析展】
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多くの皆様のご来場、誠にありがとうございました
来年も当社ブースにてお待ちしております
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 会 期: 2008.9.3~5
 会 場: 幕張メッセ国際会議場 (東京) 出展ブース: HALL7 7B-601
 主 催: (社)日本分析機器工業会
 新技術説明会:
 9/3 11:35~12:25

 【クラスターイオンが起こす表面分析の革新】
 9/3 15:50~16:15
 【PHI 5000 VersaProbeの応用例】
 9/5 11:50~12:15
 【PHI TRIFT V nanoTOFの応用例】



【VACUUM2008 -真空展- 】
 会 期: 2008.9.10~12
 会 場: 東京ビッグサイト 東京国際展示場 西3・4ホール(東京)
 主 催: 日本真空工業会、日本真空協会


【実用表面分析セミナー2008】
 会 期: 2008.10.3
 会 場: 神戸大学 百年記念館六甲ホール (神戸)
 主 催: 日本表面科学会 関西支部
 当社参加セミナー演題: 「多機能走査型Ⅹ線光電子分光分析装置PHI5000VersaProbeの機能と分析事例」


【SIMS IV China / ISSIMS 08 Beijing】
 会 期: 2008.10.26~29
 会 場: 北京(中国)
 参加セミナー演題:「Two and Three Dimensional Imaging with TOF-SIMS」


【アルバックグループ・テクノフロンティア2008】
 会 期: 2008.11.5
 会 場: 大手町サンケイプラザ 3階 (東京)
 主 催: ㈱アルバック・コーポレートセンター (共催: ㈱アルバック アルバックグループ各社)
 当社参加セミナー演題: 「表面分析装置を用いた最新の分析動向」


【International Symposium on Surface Science and Nanotechnology ISSS-5】
 会 期: 2008.11.9~13
 会 場: 早稲田大学 (東京)
 主 催: 日本表面科学会


2008年参加予定イベント