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ユーザーズミーティング

関西地区にてユーザーズミーティングを開催致します。ユーザー様同士や当社スタッフとの交流の場、そして日頃の業務に関する情報交換の機会としてぜひご利用下さい。今回はXPSユーザー発表を２件と、当社からTOF-SIMS・XPS情報のご紹介します。また、午後からは技術講演会を開催致します。

関西ユーザーズミーティング （対象： 当社ユーザー様）　
申込を締め切らせていただきました。多数のお申込ありがとうございました。
日時：　２０１１年６月３日（金） １０：００～１２：００
会場：　メルパルク京都 　http://www.mielparque.jp/kyt/kyt01.html
09:40～ 受付開始
10:00～ 開会
10:10～10:50 ＜発表 I＞

｢走査型XPSによる低損傷測定の検討｣
アルバック・ファイ株式会社　井上りさよ

『高分子材料の深さ方向分析』
株式会社 クラレ　浅田 光則 様
10:50～11:00 休憩
11：00～11:40 ＜発表 II＞
『XPS深さ方向分析における表面凹凸の影響について』
京都府中小企業技術センター　北垣　寛 様

｢PHI TRIFTV nanoTOFとその応用例の紹介｣
アルバック・ファイ株式会社　飯田真一
～12:00 閉会

スケジュールは変更する場合がございます。
誠に恐れ入りますが、当社ユーザー様の受付を優先させていただく場合がございます。
参加費は無料です。
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