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技術講演会

最先端の研究開発に携わってこられた先生方をお招きして、研究開発と分析技術の関わりについて、表面分析に限定せずにお話いただきます。また、当社から最新製品・技術についてご紹介致します。

※参加をご希望の方は、事前のお申込みをお願いいたします。
※本講演会への参加は無料です。多くの皆様のご参加をお待ちしておりますが、定員になりしだい受付を締め切らせていただきますので、早めにお申込み下さい。
万が一定員を上回った場合はお断りする可能性がございます。その際は何卒ご容赦下さい。

【 東 京 会 場 】
申込を締め切らせていただきました。多数のお申込ありがとうございました。
日時：　２０１１年 ６月 １日（水）　13:30～17:30
会場：　建築会館ホールhttp://www.aij.or.jp/jpn/guide/map.htm
13:00～ 受付開始
13:30～ 開会
13:40～15:40 『鉄鋼材料・プロセス開発における解析技術の役割』
新日本製鐵株式会社 / 林 俊一 様

『企業における解析の役割、目指すところ』
花王株式会社 / 脇坂 達司 様

『ガラス材料研究開発における分析部門の役割』
日本板硝子株式会社 / 服部 明彦 様
15:40～16:00 休憩
16:00～17:20 『実験室用硬X線光電子分光分析装置（HEARP Lab）の開発とその応用』
独立行政法人物質・材料研究機構 /小林 啓介 様、小畠 雅明 様

｢アルバック・ファイの表面分析装置開発の展望について｣
アルバック・ファイ株式会社 / 田口　雅美

｢アルバック・ファイにおけるAr-GCIBの表面分析への応用とその進捗｣
アルバック・ファイ株式会社 / 宮山 卓也
～17:30 閉会
技術講演会終了後に、ささやかな懇親会をご用意しております。是非ご参加下さい。
・プログラムは予告なしに変更する場合があります。

【 京　都 会 場 】
申込を締め切らせていただきました。多数のお申込ありがとうございました。
日時：　２０１１年 ６月 ３日（金）　13:30～17:00
会場：　メルパルク京都　http://www.mielparque.jp/kyt/kyt01.html
13:00～ 受付開始
13:30～ 開会
13:40～15:30 『 デバイス開発における分析・解析の役割 』
パナソニック株式会社 / 浅田 英嗣 様

『企業における解析の役割、目指すところ』
花王株式会社 / 脇坂 達司 様

『実験室用硬X線光電子分光分析装置（HEARP Lab）の開発とその応用』』
独立行政法人物質・材料研究機構 /小林 啓介 様、小畠 雅明 様
15:30～15:50 休憩
15:50～16:40 ｢アルバック・ファイの表面分析装置開発の展望について｣
アルバック・ファイ株式会社 / 田口　雅美

｢アルバック・ファイにおけるAr-GCIBの表面分析への応用とその進捗｣
アルバック・ファイ株式会社 / 宮山 卓也
～17:00 閉会
技術講演会終了後に、ささやかな懇親会をご用意しております。是非ご参加下さい。

・京都会場は午前中にユーザーズミーティングを開催します。
・プログラムは予告なしに変更する場合があります。
・ユーザーズミーティングは当社ユーザー様向けといたしますが、ユーザー様以外の方もご参加が可能です。
・当社よりご案内をお送りしたお客様の申込を優先させていただく場合がございますので、ご了承下さい。

【 問 い 合 わ せ 】

アルバック・ファイ㈱　市場開発部　マーケティング室
TEL:0467-85-9469 upshow@ulvac-phi.com

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