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表面分析サービス
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応用技術室では、評価装置の導入にあたり、どの表面分析法が有効であるかの判断、あるいは技術開発・生産工程などで発生している問題の解決などをお手伝いさせて頂くため、常に最新の表面分析装置を設置し、専門技術者がご相談をお受けしております。
分析試料についての情報と弊社分析技術を融合させ、より信頼性の高い評価結果を得るため、皆様に装置の前で操作をご覧頂き、測定・解析を行うことを原則としています。 今後ますます高度化するプロセス技術や品質保証などの分野で弊社の最新表面分析装置と経験豊富な専門技術者をご利用下さいますようお願い申し上げます。 |
主要設備
【AES】
走査型オージェ電子分光分析装置 PHI 700
【ESCA/XPS】
走査型X線光電子分光分析装置 Quantera SXM、 PHI 5000 VersaProbe
【TOF-SIMS】
飛行時間型二次イオン質量分析装置 TRIFT V nanoTOF
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