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Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy

ToF-SIMS: Surface Analysis by Mass Spectrometry SurfaceSpectra製品は、表面分析を支援する「経験」と「知恵」の宝庫です。SurfaceSpectraは、スタティックSIMSデータベースとポリマー XPSスペクトルデータベースを中心に、実用分析を支援する知識(ナレッジ)・システムを提供しています。

特長

Edited by John C. Vickerman and David Briggs

本書はBriggs and Seah編集の定評ある教科書『Practical Surface Analysis』(第一巻)の最新改訂版を目指して編集された英語版のAES (オージェ電子分光法)とXPS(X線光電子分光法、ESCA)の英語版解説書です。
今日、AESとXPSは表面および界面の分析手法として広く実用的に用いられるようになりましたが、最近十年の装置および解析手法の進歩は目覚しいものがあります。本書はこれらの最新のデータをアップデートし、広く研究者・分析担当者の座右におくべき参考書としてまとめられました。