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ToF-SIMS: Surface Analysis by Mass Spectrometry

SurfaceSpectra製品は、表面分析を支援する「経験」と「知恵」の宝庫です。SurfaceSpectraは、スタティックSIMSデータベースとポリマー XPSスペクトルデータベースを中心に、実用分析を支援する知識（ナレッジ）・システムを提供しています。

特長

Edited by John C. Vickerman and David Briggs

TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）の英語版解説書です。
表面分析の教科書には、たいてい、スタティックSIMS、さらにTOF-SIMSについて紙面を割いておりますが、TOF-SIMSの総合的な解説書はこれまでありませんでした。本書はTOF-SIMSの基礎的な知見と多面的な応用を幅広く記述した、世界初の解説書です。
Alfred Benninghoven教授によるTOF-SIMSの歴史と基礎理論の紹介からなる序章に続き、5つのセクション、30章の本文を、各界の専門家に執筆いただきました。

TOF-SIMS装置
二次イオン生成の基礎（理論および実験）
TOF-SIMS測定を最適化する方法
スペクトルデータの解釈
分析への応用
特に「分析への応用」には全体の１／３の章をあてて、詳しく解説します。