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06-C60 C60スパッタイオン銃

06-C60 06-C60は、これまで不可能とされていた有機物の低損傷エッチングができるC60イオン銃コンポーネントです。
有機物を表面分析する際の表面クリーニング前処理や、有機薄膜内部の化学構造や、有機積層材料の界面構造のXPS、TOF-SIMS分析等への応用が可能となりました。

特長

Arイオンビームでは不可能であった有機物の表面クリーニング、
および低損傷深さ方向化学状態分析が可能です。
加速電圧1〜10kV、最大ビーム電流20nAのイオンビームを照射可能です。
ビーム径1mm以下まで絞ることが可能です。
従来機種のアップデートにも対応可能です。
英国Ionoptika社との共同開発製品です。

主な仕様

イオン銃部
加速電圧 1〜10kV
最大ビーム電流 20nA*
最小ビーム径 1mm*
静電ビーム偏向範囲 10mm×10mm**,*
C60ソース ヒーター加熱式
イオン化 電子衝撃式
動作距離 50〜63mm
差動排気口 70mmCFフランジ
*加速電圧10kV、動作距離を63mmとし、差動排気口に50l/s以上のポ ンプを取り付けた場合
**XY独立、±240 V印加時

イオン銃 コントロール
加速電圧 1〜10kV
外部制御 RS 232C
寸法(mm) 483(W)×132(H)×350(D)
電力 115/240V AC, 4A(460W)
重量 10kg

スキャンコントロール
インプット 0〜10V (X,Y/Scan Width)
−5〜+5V (X,Y/Offset)
寸法(mm) 483(W)×88(H)×395(D)
電力 100〜240V AC, 1A(100W max)
重量 8kg

ソフトウェア
動作環境 Windows® XPベース、PC、シリアルポート
制御 ソース加熱、加熱電圧、レンズ、電圧、ビームパーキング