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• Quantera SXM ™　走査型X線光電子分光分析装置
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• PHI TRIFT V nanoTOF ™　飛行時間型二次イオン質量分析装置

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• PHI ADEPT-1010 二次イオン質量分析装置

★コンポーネンツ

• 06-C60　C₆₀スパッタイオン銃
• 06-350/350E　スパッタイオン銃
• FIG-5 スパッタイオン銃
• USG-3スパッタイオン銃
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• 表面分析関連カスタム装置

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ニュース

• 新飛行時間型二次イオン質量分析装置を発表　【2006.8】

• 新走査型X線光電子分光分析装置を発表　【2006.8】

• 茅ヶ崎本社・工場　ダイヤルイン化のご案内　【2005.6】

• C₆₀イオン銃　販売開始 【2004.11】

イベント

• 2008年参加予定イベント

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カスタマーサービス

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• オージェ電子分光分析装置における相対感度係数の訂正について

• 配布済み　MultiPak™ 修正手順書の図の訂正について

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