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【サイト内キーワード検索について】アルバック・ファイのサイトに掲載されているデータを対象に検索を行ないます。上部の「検索」テキストボックスにお調べになりたいキーワードを入力してください。
商品情報
★表面分析装置★X 線光電子分光分析装置 ESCA/XPS
★走査型オージェ電子分光分析装置 AES
★飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS
★四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS
★その他システム
★イオンポンプ
★イオン銃 / 電子分光器（CMA)
★受託有償分析
★データベース/ ソフトウェア
- PHI MultiPak
- Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy
- Handbook of Auger Electron Spectroscopy
- Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy
- ToF-SIMS: Surface Analysis by Mass Spectrometry
- XPS Polymer Database
- Static SIMS Library
