ユーザー様へのお知らせ

ユーザー様へのお知らせ>
オージェ電子分光分析装置における相対感度係数の訂正について
| この度、当社にてオージェ電子分光分析装置における相対感度係数に関する確認作業を進めた結果、 珪素(Si 1, KE=96 eV)の値がハンドブック※1、MultiPak™ とともに測定値からずれていることが分かりました。 まだ連絡を受理されていないお客様、また内容に不明な点があるお客様がいらっしゃいましたら、恐れ入りますが下記連絡先までお問い合せいただきますようお願いいたします。 なお、誠に申し訳ありませんが、既にご連絡致しましたMultiPak™の修正手順書のなかで、 訂正が一ヶ所ございました。訂正の内容につきましては下記リンクよりご確認下さい。 ただし、RSFの修正に関する内容および手順につきましては変更ございません。 重ねて不手際をお詫び申し上げます。 ※1 Handbook of Auger Electron Spectroscopy, Third Edition, by K.D.Child et al., Physical Electronics,1995.
|
|||
ELMITEC Elektronenmikroskopie GmbH社製品 ユーザーの皆様へ
PHI MultiPakTM 8.x を ご使用の皆様へ
オージェ電子分光分析装置における相対感度係数の訂正について
配布済み MultiPak™ 修正手順書の図の訂正について
