Unveil the
surface.
Shape the future.
表面を知ることで、材料の未来を拓く。
世界最高水準のXPS／AES／TOF-SIMS／Q-pole-SIMS。
フラッグシップXPS装置「PHI GENESIS」が登場。最高クラスの感度と空間分解能で、半導体・電池・バイオメディカルなど、あらゆる先端材料の表面化学を可視化します。
表面分析で、ものづくりの未来を支える。
材料の表面はわずか数ナノメートルの領域ですが、製品の性能・品質・安全性を左右する重要な役割を担っています。表面分析は、その極薄い層の元素組成や化学状態を高精度に解析する技術です。
アルバック・ファイは、XPS・AES・TOF-SIMSなど世界トップクラスの表面分析装置を開発・販売するメーカーです。半導体・材料・製薬など幅広い分野で、研究開発と品質管理を最前線で支えています。
APPLICATIONS
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半導体Semiconductor
薄膜や微細構造の組成分析、汚染物質の同定を通じ、プロセス開発と歩留まり向上を支援します。
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薄膜・コーティングThin Film & Coating
防食・摩耗低減・接着強化などを目的とした薄膜・コーティングの組成と構造を精密に評価します。
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材料開発Materials R&D
合金・ガラス・セラミックスの微細組織や粒界の組成分布を分析し、製品性能の向上に貢献します。
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磁気メディアMagnetic Media
ナノスケールの保護コーティングや磁気記録層の評価、部品の汚染検出に表面分析を活用します。
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ポリマーPolymer
ポリマー表面の修飾状態や汚染を評価し、接着性・濡れ性の改善と機能性材料の開発を支援します。
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製薬Pharmaceuticals
薬剤の有効性に影響する組成の分析や製剤中の異物検出に、表面分析が重要な役割を担います。
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バイオメディカルBiomedical
生体適合性の評価やバイオセンサー開発において、表面の有機物・官能基を定量的に分析します。
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