SIMS ユーザーズミーティング

SIMS ユーザーズミーティング

毎年ご好評頂いております【 ユーザーズミーティング 】 を本年度も開催いたします。
当社ユーザーの皆様同士の交流と情報交換の場としてぜひご活用いただきたくご案内申し上げます。
皆様のご参加をお待ちしております。

開催日時と会場のご案内

2014/2/5(水) 10:30~17:00 (受付開始:10:00~)

三田NNホール&スペース

東京都港区4-1-23 三田NNビル地下1階
JR田町駅 徒歩5分
都営三田線 三田駅直通(A9出口)
都営浅草線 三田駅 徒歩3分 

プログラム

午前の部 (10:30~12:00)
基礎講座: 会場:スペースD

装置を使い始めて1‐2年の方を対象とした内容です。

  • 「SIMSの原理と測定講座」

午後の部 (13:00~16:50) 会場:スペースDユーザーご発表

  • 東京理科大学 福西 美香 様
    「ナトリウムイオン電池のSn負極表面分析」
  • 株式会社日東分析センター 前野 直人 様
    「アルゴンガスクラスターイオンを用いたTOF-SIMS深さ方向分析」
  • 古河電気工業株式会社 大友 晋哉 様
    「四重極型SIMSを用いたⅢ-Ⅴ半導体中の不純物分析:質量干渉とその回避法」
(ご発表者所属機関名の五十音順) 

アルバック・ファイより

  • 最新応用例のご紹介
  • 「リチウムイオン電池電極の表面分析」
  • 「Ar-GCIBを用いた断面試料の作製とその場観察」
  • 「国内営業部からのお知らせ」
      ~午後に情報交換会を予定しております~
  • 開催時間は当日の進行状況により変更する場合があります。
  • 基礎講座(午前の部)・ユーザーズミーティング(午後の部)へのご参加は無料です。
  • 当社ユーザー様のみ受付させて頂きます、何卒ご了承下さい。
  • 情報は随時更新し、お知らせいたします。

    【問い合わせ先】
    アルバック・ファイ株式会社 マーケティング室
    直通電話:0467-85-9469