ユーザーズミーティング（東京）

本イベントは終了いたしました。

本年度も XPS, AES, SIMS ユーザー様合同で開催いたします。
各手法の枠に捉われず、当社ユーザー様同士で自由に情報交換いただく場となれば幸いです。
皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要（XPS, AES, SIMS 合同開催）

本イベントへのご参加は、当社装置のユーザー様に限らせていただきます。

「PHI Quantes 走査型デュアルX線光電子分光分析装置の紹介」
「パラレルイメージングMS/MSの最新応用事例」
「MultiPak 新機能の紹介（ESCA, AES）」

昼休憩

京都大学　Heidy Visbal 様
「TOF-SIMSによる活物質/硫化物固体電解質界面の構造解析」

日鉄住金テクノロジー株式会社　安達丈晴様
「高温・高圧水下における腐食生成物のその場分析および Cr添加の影響調査」

日本特殊陶業株式会社　菱田　智子様
「真空破断によるX線光電子分光におけるバルク敏感性の改善」

（ご発表順）

休憩

ユーザーズミーティング終了後に懇親会をご用意しておりますので、ぜひご参加ください。

東京都港区4-1-23　三田NNビル地下１階
http://www.mita-nn-hall.com/access/access.html