ユーザーズミーティング

本イベントは終了いたしました。

ユーザーズミーティング

当社の表面分析装置(XPS, AES, SIMS)をお使いの皆様を対象に開催いたします。

お使いの装置に関する日頃の疑問解消の場、今後の参考になる情報を得る場として
ご活用いただければ幸いです。皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要(XPS, AES, SIMS 合同開催)

本イベントへのご参加は、当社表面分析装置のユーザー様に限らせていただきます。

日時:2018年 2月 9日(金)10:30~17:00〔受付開始 10:00~〕
会場:ベルサール田町 (東京) 

定員につき、受付を締め切りました。


プログラム

午前[10:30~11:50]

各手法の分析講座

各手法を2部屋(Room2,4)に分けて、同時進行で実施します。

Room2 Room4
TOF-SIMS

-測定編-
:複雑な形状を有する試料の測定における注意点
:Autoツールを使った自動分析例の紹介

-解析編-
:TOF-DR新機能の紹介

XPS

-測定編-
:試料に応じた最適な測定条件の設定

-解析編-
:XPSスペクトルのフィッティング解析

D-SIMS

デプスプロファイル解析ソフト
SIMetric DRの使い方

*TOF-SIMSのデプスプロファイルでも活用できる内容です。

AES

-測定編-
:イメージレジストレーション機能の上手な使い方

-解析編-
:AESスペクトルのフィッティング解析

 


昼休憩


 

午後[13:00~16:50]

ユーザー様からのご発表

岐阜県工業技術研究所 大川 香織 様
「自己組織化膜による刃物の表面改質技術の開発」

株式会社コベルコ科研 早川 敬済 様
「異なる励起エネルギーを利用したリチウムイオン二次電池材料のXPS分析」

学会報告:ECASIA'17 ~アルバック・ファイ分析室より~


コーヒーブレイク


学会報告:SIMS XXI ~アルバック・ファイ分析室より~

ユーザー様からのご発表

株式会社東レリサーチセンター 柴森 孝弘 様
TOF-SIMSによる応用解析事例 (MS/MSなど) 」

AGC旭硝子株式会社 末原 道教 様
D-SIMSによる酸化物中微量窒素の深さ方向分析

アルバック・ファイ 営業部からのお知らせ


 

ユーザーズミーティング終了後に懇親会をご用意しておりますので、ぜひご参加ください。


会場のご案内

ベルサール田町

* 例年と異なる会場です。下記よりご確認くださいますようお願いいたします。

東京都港区芝浦3-12-7
https://www.bellesalle.co.jp/shisetsu/shinagawa/bs_tamachi/access 

  • JR田町駅 東口 徒歩4分
  • 都営三田線、浅草線 A4出口 徒歩7分 

お知らせと注意事項

  • 本イベントへのご参加は、当社表面分析装置のユーザー様に限らせていただきます。
  • 参加費は無料です。
  • スケジュールは予告なく変更する場合があります。
  • 定員につき、受付を締め切りました。
  • 定員になり次第、受付を締め切らせていただきます。