アルバック・ファイ 技術講演会

本イベントは終了しました。大変多くのお客様にご来場いただき、誠にありがとうございました。

アルバック・ファイ 技術講演会

ご好評をいただいております技術講演会を、今年も開催いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

開催概要

日時:2023年 7月 4日(火)13:00~17:00(受付開始 12:30)
会場:建築会館(東京)
   ※今回は会場のみの開催となり、WEB配信(録画)はございません。
   ※定員100名

***お願いとご連絡***
-  建築会館アクセス https://www.aij.or.jp/map.html
-  お申し込み後にキャンセルされる場合はご連絡をお願いいたします。

プログラム

13:00 開会

    アルバック・ファイより最新の技術およびアプリケーションのご紹介

14:00 日本パーカライジング株式会社 総合技術研究所 解析科学研究センター 軽部健志 様
         
『化学系薬剤メーカー研究所における表面分析装置の管理・運用方法のご紹介』                            + 『XPS による化成処理材の表面分析例のご紹介』

      ー 休憩 ー

15:00 公益財団法人 佐賀県産業振興機構 九州シンクロトロン光研究センター 小林英一 様
         
『放射光の低エネルギー軟X線を用いた表面分析 ーより浅い検出深さー』

16:00 旭化成株式会社 デジタル共創本部 インフォマティクス推進センター 河野禎市郎 様
         
『旭化成におけるR&D DX』

16:50 閉会

17:00 懇親会

※ 進行によって時間は前後する可能性があります。

会場のご案内

建築会館ホール 【アクセスマップ】

https://www.aij.or.jp/jpn/guide/map.htm

東京都港区芝5丁目26番20号
JR山手線・京浜東北線 「田町駅」三田口(西口)より徒歩5分
地下鉄 都営浅草線・三田線「三田駅」A3出口 より 徒歩3分


お知らせと注意事項

  • 技術講演会へのご参加は無料です。
  • 技術講演会へのご参加は当社のお客様に限らせていただきます。
  • プログラムは予告なしに変更する場合がございます。
  • 当日のプログラムは、本ページ内にて随時更新いたします。