|

アルバック・ファイ株式会社トップ
ニュース
2025年

2025年

2025年

2025/02/25

EVENT

第72回応用物理学会春季学術講演会

ニュース

2025年
2024年
2023年
2022年
2021年
2020年
2019年
2018年
2017年
2016年
2015年
2014年
2012年
2011年
2010年

クラブ・ファイへ会員登録後、ソフトウェアアップデートファイルやカタログなどのダウンロードができます。

新規会員登録

お問い合わせ

資料請求やお見積もり、修理・メンテナンスなどについても、お気軽にお問い合わせください。

問い合わせフォーム

アクセス

〒253-8522 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500

詳細はこちら

X線光電子分光分析装置 XPS
走査型オージェ電子分光分析装置 AES
飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS
四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS
高速分光エリプソメーター
アップデート
その他システム
各種サービス

アルバック・ファイ　オンラインセミナー
イベントレポート
2025年
2024年
2023年
2022年
2021年
2020年
2019年
2018年
2017年
2016年
2015年
2014年

2025年
2024年
2023年
2022年
2021年
2020年
2019年
2018年
2017年
2016年
2015年
2011年
2014年
2012年
2010年

アプリケーション

半導体
磁気メディア
材料開発
ポリマー
薄膜とコーティング
バイオメディカル
製薬

クラブ・ファイ

Φ チャットに質問
よくあるご質問
データベース
アプリケーションダウンロード
カタログダウンロード
【期間限定公開】データ解析ソフトウェアダウンロード（NEW）
装置の遠隔操作手順（NEW）
PHI Elite Tutorial Video List
Webサポート（装置操作手順動画）
表面分析基礎講座（NEW）
過去の発表資料
データ解析テキスト＆操作手順動画集ダウンロード
MultiPakアップデートファイルダウンロード
保守契約情報

表面分析情報

表面とは
表面分析とは
XPSとは
TOF-SIMSとは
AESとは
表面分析トピックス

社長メッセージ
概要/沿革
所在地
品質・環境
健康宣言
採用情報
関連企業・団体
各種お問い合わせ

Copyright © ULVAC-PHI, INCORPORATED. All rights reserved.

PHYSICAL ELECTRONICS
個人情報保護方針
ご利用規約

このサイトでは、お客様の利便性や利用状況の把握などのためにCookieなどを使用してアクセスデータを取得・利用しています。これ以降ページを遷移した場合、Cookieなどの設定や使用に同意したことになります。ウェブサイトでの個人情報の取り扱いや利用規約をご覧ください。

閉じる