アルバック・ファイ株式会社とPhysical Electronics USA, Inc.は、シアトルで開催された第20回二次イオン質量分析国際会議（SIMS-XX）で、PHI nanoTOF II™に搭載するImaging MS/MSオプションに関してMaastricht大学との共同研究成果を含む以下5件の発表を行いました。

A New Instrument for Parallel TOF-SIMS and MS/MS Data Acquisition

P.E. Larson, G.L. Fisher, J.S. Hammond, Physical Electronics, R.M.A. Heeren, Maastricht University, Scott R. Bryan, Physical Electronics

Imaging of Molecular Chemistry in Biological Specimens by Next-Generation TOF-SIMS

Greg L. Fisher, Physical Electronics, N. Ogrinc Potocnik, A.L. Bruinen, B. Flinders, Maastricht University, T. Miyayama, S. Iida, ULVAC-PHI, J.S. Hammond, S.R. Bryan, Physical Electronics, R.M.A. Heeren, Maastricht University

TOF-SIMS Imaging MS/MS of Polymer Additives

John S. Hammond, P.E. Larson, G.L. Fisher, Physical Electronics, T. Miyayama, ULVAC-PHI, D.M. Carr, S.R. Bryan, Physical Electronics

Biomolecular Investigation of Neurodegenerative Diseases of Brian Plasticity with TOF-SIMS Tandem Imaging MS

Nina Ogrinc Potocnik, Maastricht University, G.L. Fisher, Physical Electronics, J. Praet, J. Hamaide, University of Antwerp, A.L. Bruinen, Maastricht University, A. Van Der Linden, University of Antwerp, R.M.A. Heeren, Maastricht University

High Resolution TOF-SIMS Tandem Imaging MS of Lipid Species in Infected Thin Tissue Sections

Anne L. Bruinen, Maastricht University, G.L. Fisher, Physical Electronics, A.M. Van Der Sar, VU University, N. Ogrinc Potocnik, R.M.A. Heeren, Maastricht University

この新しいImaging MS/MSオプション（特許取得済み）は、一般的なTOF-TOF型タンデム質量分析器にはない高速パラレルイメージング機能を有しており、従来のTOF-SIMS測定と同時に、Imaging MS/MSオプションによるスペクトル、イメージ、デプスプロファイルの同時取得を実現します。TOF-SIMSの新たな可能性を示す発表に会場からも多くの反響を頂きました。

来月には、Maastricht大学のPHI nanoTOF II™ にβ-VersionとしてImaging MS/MSオプションが搭載されます。同大学のProf. Ron Heerenのグループと一緒に開発を進め、2016年6月に商品化する予定です。

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