飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS)

MS/MSオプション NEW

Key Technology

■ MS1 と MS2 の質量イメージと、
　 スペクトルを同時に取得・表示可能
■ MS1 と MS2 は全く同一の分析領域
　（検出途中で MS1 と MS2を分けるため）
■ 高速でしかも高い質量精度で、
　 MS2 スペクトルを取得可能
■ 最小 1 Daの範囲で MS2 ピークを選択可能