2線源搭載ラボ型HAXPESで拡がる応用範囲
2023.08.04 UpdateTOPICS
2線源搭載ラボ型HAXPESで拡がる応用範囲
HAXPES も XPS と同様に信頼性の高いスペクトル取得が可能となり、表面分析の可能性が拡がっています。検出深さや軌道の選択範囲が広がり、さらに角度分解XPSの適用可能範囲も拡大しました。
これまでの表面だけでなく、埋もれた界面の分析から界面の検出まで、新たな応用が期待できます。
最新の技術資料として、2023年7月に開催した技術講演会の当社発表資料を掲載しました。
技術資料ダウンロード
クラブ・ファイに会員登録いただくと、下記の技術資料をダウンロードできます。
(ただし、会員種別によってご利用範囲が異なります)
データベース
製品カタログ
HAXPES 関連技術資料(装置ユーザー会員様のみ利用可能です)
- 【2019 ユーザーズミーティング】
硬X線光電子分光分析装置 PHI Qunates の最新応用例 - 【2019 JASIS関西】
ラボ型硬X線光電子分光分析装置 PHI Quantesを用いた最新分析事例 - 【2017 技術講演会】
PHI Quantes 走査型デュアルX線光電子分光分析装置の紹介 - 【2017 JASIS】
XPS に新たな光(Cr Kα線)- HAXPES装置の最新情報 - - 【2015 JASIS】
ラボ型 硬X線光電子分光分析装置の開発紹介 - 【2014 JASIS】
電子分光装置における新技術紹介とその新たな応用事例 - 【ULVAC Technical Journal】
新しい応用を切り開く硬X線光電子分光分析装置:PHI Quantes