アルバック・ファイ　オンラインセミナー

無料オンラインセミナー（Zoom ウェビナー）の一覧です。

各日14:00～15:00

発表：45分　質疑応答：15分　計60分のセミナーを予定しております。

日程

タイトル

言語

対象

参加登録
開始日

1/28 （火）	2024年アプリケーションノートダウンロード数　トップ3：複数の分析手法を用いた解析事例	日本語	一般	1/7 （火）
【概要】本セミナーでは2024年に発行されたアプリケーションノートの中から、特にダウンロード数が多かった上位３件を厳選し、詳細に解説いたします。これら事例はいずれも複数の分析手法を組み合わせた解析が特徴であり、多様な視点からのアプローチに多くの関心が寄せられていることがうかがえます。１）マルチテクニックXPSとFIB TOF-SIMSによる全固体電池の界面解析２）XPSとTOF-SIMSによるペロブスカイト太陽電池材料の深さ方向分析３）Cr Kα HAXPES と TOF-SIMSによるハイエントロピー合金の腐食機構調査
本イベントは終了しました。たくさんのご参加ありがとうございました。

2/26 （水）	SmartSoft測定講座 Image Registration機能の使い方	日本語	ユーザー	2/5 （水）
【概要】 XPS測定を仕掛けたけど、測定位置がずれてしまって測定が失敗した！という経験はありませんか？そんな時に役に立つ機能があります。位置補正機能「Image Registration」です。本セミナーでは「Image Registration」の使い方を説明いたします。

3/18
（火）

Advanced Surface Analysis Techniques for Material Characterization

Surface Characterization of High Entropy Alloys for Corrosion Mechanism Investigation Using Surface Analysis Techniques
Dr. Hsun-Yun Chang

Photostability and Degradation Mechanisms of Multi-Cation Hybrid Perovskites: Insights from Surface Analysis Techniques
Prof. Wei-Chun Lin

英語

一般

2/25
（火）

4/23 （水）	2024年アプリケーションノートダウンロード数　トップ1：マルチテクニックXPSとFIB TOF-SIMSによる全固体電池の界面解析	日本語	一般	4/2 （水）
【概要】本セミナーでは、1月に開催したオンラインセミナーに引き続き、2024年に発行されたアプリケーションノートの中からダウンロード数がいちばん多かった「マルチテクニックXPSとFIB TOF-SIMSによる全固体電池の界面解析」について詳細に解説いたします。

※「対象：ユーザー」は、当社表面分析装置をお使いの方限定のセミナーです。
※日程や内容は変更する可能性があります。お申し込み方法等はこのページ上で随時更新いたします。
※本セミナーの資料は配布いたしませんので、ぜひご参加ください。

日程	タイトル	言語	対象	参加登録開始日
10/31 （木）	TOF-SIMS Applicationセミナー詳細（英語）はこちら	英語	一般	10/9 （水）
本イベントは終了しました。たくさんのご参加ありがとうございました。

11/27 （水）	Al線とCr線のApplication紹介詳細（英語）はこちら	英語	一般	11/6 （水）
本イベントは終了しました。たくさんのご参加ありがとうございました。

12/25 （水）	UPS/LEIPS/REELS解析講座	日本語	ユーザー	12/4 （水）
【概要】紫外線光電子分光法（UPS）、低エネルギー逆光電子分光法（LEIPS）、反射電子エネルギー損失分光法（REELS）は、試料表面から放出される電子や光のエネルギーを測定することで、イオン化ポテンシャルや電子親和力、バンドギャップなど、固体表面の電子状態を反映した情報が得られます。本セミナーでは、各々の手法の原理を説明した後、実際の応用事例をご紹介し、MultiPakを使用した具体的な解析手順について解説します。
本イベントは終了しました。たくさんのご参加ありがとうございました。