当社の表面分析装置（XPS, AES, SIMS）をお使いの皆様を対象に開催いたします。

お使いの装置に関する日頃の疑問解消の場、今後の参考になる情報を得る場として
ご活用いただければ幸いです。皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

日時：2025年 2月 7日（金）13:00～17:00（受付開始 12:30）
会場：建築会館

-  建築会館アクセス https://www.aij.or.jp/map.html

 ※内容、詳細は随時このページで更新いたします。

内容

ユーザー様ご発表

キヤノン株式会社　村山 陽平 様
「TOF-SIMSによるトナー粒子の分析事例紹介」

国立研究開発法人 産業技術総合研究所　大塚 照久 様
「産総研NPFの原子層堆積装置複合化XPS分析装置とその解析事例紹介」

日本パーカライジング株式会社　田口 秀之 様
「ベイズスペクトル超解像によるXPS測定の高速化検討」

アルバック・ファイより最新トピックスをご紹介