製品情報

X線光電子分光分析装置 XPS

NEW

PHI GENESIS

フルオート多機能走査型X線光電子分光分析装置

続きを読む

PHI Quantes

硬X線と従来の軟X線の２線源を搭載し、新しい分野を切り開くXPS

続きを読む

 

走査型オージェ電子分光分析装置 AES

PHI 710

8 nm 以下のオージェ電子空間分解能を保証している世界唯一のオージェ電子分光分析装置

続きを読む

PHI 4800

高感度、かつ、微小部の化学状態分析が可能な次世代オージェ

続きを読む

 

 

 

 

飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS

NEW

PHI nanoTOF 3+

微小領域の表面質量分析を極める
多機能TOF-SIMS

続きを読む

 

 

四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS

PHI ADEPT-1010

続きを読む

 

高速分光エリプソメーター

PHI QuickSE シリーズ

続きを読む

アップデート

• アルゴンガスクラスターイオン銃（GCIB）アップデート

データベース/ソフトウェア

• PHI MultiPak™
• Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy
• Handbook of Auger Electron Spectroscopy
• Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy
• ToF-SIMS: Materials Analysis by Mass Spectrometry, 2nd edition.
• XPS Polymer Database
• Static SIMS Library

各種サービス

中古機販売

カスタマーサービス