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パラレルイメージングMS/MSオプションとは
2017.02.22 UpdateTOPICS
パラレルイメージングMS/MSオプションとは
パラレルイメージングMS/MSオプション＊をTOF-SIMSに搭載することで、最表面のタンデム質量分析を高速・高感度で実現し、スタティックな条件下でMS1とMS2の同時高速測定を可能にします。
（＊US Patent EP,JP Patent Pending）
MS1とMS2のスペクトルとイメージを同時に取得
MS1データを測定する際に得る二次イオンの一部をプリカーサーセレクターによって抽出・分岐することで、MS1とMS2 データをパラレルかつ高速で得ることができます。
MS1では、試料表面に存在するすべての成分が検出されるため、スペクトルは複雑になります。プリカーサーセレクターによって抽出・分岐して得られたMS2データは、シンプルなスペクトルパターンとなり、特定の分子構造のイメージングが可能です。
プリカーサーセレクターが OFF の場合
プリカーサーセレクターが ON の場合
未知の有機材料の測定事例
未知の有機材料を測定した事例を紹介します。
MS1スペクトルでは試料表面に存在する成分が全て検出されるため、スペクトルは複雑になります。一方、プリカーサーセレクターによって抽出・分岐して得られたMS2スペクトルではシンプルなスペクトルパターンとなり、より詳細な化学構造解析が可能となります。
試料：未知試料（有機材料）
一次イオン：30 keV Bi3+
測定視野：400 μm × 400 μm
測定時間：14分
ドーズ量：3.2×1011 ions/cm2
ポリプロピレン上の未知の添加物測定事例
こちらはポリプロピレン上の未知添加物を測定した例です。表面にしか存在しない添加剤を高感度で分析でき、また、特定の化学構造の分布を可視化することが可能です。（クリックすると図が拡大します）
試料：複数の未知の添加剤を含むポリプロピレン
一次イオン：30 keV Bi3+
測定視野：400 μm × 400 μm
測定時間：8分
ドーズ量：7.6×1011 ions/cm2
注：本文中では、MS1, MS2 はハードウェア（検出器）、MS1, MS2（数字上付き）をTOF-SIMSデータを示すものとして、それぞれ使い分けています。
関連装置 リンク
飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS
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