午前：アルバック・ファイ 分析室より　【10:30～12:00】

　　「TOF-SIMS基礎講座　＜測定編・解析編＞」

午後：ユーザーズミーティング　【13:00～17:00】

ユーザー様ご発表

　　株式会社東レリサーチセンター　宮本 隆志　様
　　　「SIMSによる試料中水分評価」

　　独立行政法人物質・材料研究機構　増田 秀樹　様
　　　「電流-電圧印加機構を用いた全固体型LIBの解析」

　　古河電気工業株式会社　大友 晋哉　様
　　　「TOF-SIMSを用いたIII-V化合物半導体プロセスの評価」

（ご発表者所属機関名の50音順）

情報交換会（コーヒーブレイク）

アルバック・ファイからの発表・お知らせ

　　新製品・新技術のご紹介（PHI nanoTOF II™, PHI 4800, HXPS）　他

ユーザーズミーティング終了後に懇親会をご用意しております。奮ってご参加ください。