午前 [10:30～12:00]

アルバック・ファイ 分析室より

「ラボ型 硬X線光電子分光分析装置を用いた測定事例の紹介」
「MS/MSを搭載した PHI nanoTOF II を用いた有機材料のスペクトル解析」
「海外学会動向 ～SIMS XX, ECASIA'15, AVS-62～」 

昼休憩

午後 [13:30～17:00]

ユーザー様ご発表

東芝ナノアナリシス株式会社　佐瀬 輝彦 様
「放射光および実験室HAXPESを利用した応用事例の紹介」

国立研究開発法人物質・材料研究機構　石田 暢之 様
「走査型オージェ電子顕微鏡 (SAM) によるリチウムの化学状態分析」

花王株式会社　岡本 昌幸 様
「TOF-SIMSによる毛髪最表面の構造解析」

旭硝子株式会社　山本 雄一 様
「D-SIMSによるガラス中水素の深さ方向プロファイル分析」

（ご発表順）

コーヒーブレイク

自由討論

事前にお寄せいただいた質問の中から手法ごとに議題を設定し、ユーザー様同士が自由に討論いただける時間を設けました。どうぞお気軽にご発言ください。

• XPS：「粉体試料の測定について」
• AES：「絶縁物の測定について」
• TOF-SIMS：「ピークアサインについて」
• D-SIMS：「測定の再現性について」

アルバック・ファイ 営業部より

「ニーズに合わせたカスタム事例のご紹介」

ユーザーズミーティング終了後に懇親会をご用意しておりますので、ぜひご参加ください。