アルバック・ファイ　ユーザーズミーティング

本イベントは終了いたしました。大変多くの方々にご参加いただき、誠にありがとうございました。

　東京会場での開催は取り止め、オンラインのみの開催といたします。　

当社の表面分析装置（XPS, AES, SIMS）をお使いの皆様を対象に、
ユーザーズミーティングを開催します。

お使いの装置に関する日頃の疑問解消や、参考になる情報を交換する場として
ご活用いただければ幸いです。

開催日時と方法（XPS, AES, SIMS 合同開催）

本イベントへのご参加は、当社表面分析装置のユーザー様に限らせていただきます。

- 東京会場：ベルサール八重洲［定員：50名］
- オンライン：Zoom Webinar

＜申込受付は終了いたしました＞

【ご案内】
＊お申し込みの際に「会場」を選択された方も、再度のお申し込みや変更のご連絡は不要です。
＊お申し込みいただいた方には、開催前日および当日、Zoom参加のご案内をお送りします。

12:30　Zoom 入室開始

13:00　開会

ユーザー様ご発表

■ 日本パーカライジング株式会社　田口秀之様
　「化成処理皮膜のXPS深さ方向分析における帯電の影響と対策」

■ 住友電気工業株式会社　星名豊様
　「独自データ解析技術を活用した表面分析」

■ 花王株式会社　矢渕翼様
　「Cryo-TOF-SIMS/SEMによる溶液試料の組成・構造解析」

14:50

アルバック・ファイより

□ 新製品のご紹介

□ 営業部からのご案内

□ これまでにいただいたQ&Aのご紹介

17:00　閉会

※ 途中で2回、休憩を挟みます。
※ 進行によっては、時間は前後する可能性があります。