13:00　開会

　        アルバック・ファイ株式会社　製品戦略部　飯田 真一
　        『TOF-SIMSにおける自動測定 効率的なデータ収集に向けて』

　        アルバック・ファイ株式会社　寺島 雅弘
　        『PHI GENESISを用いた半導体材料の評価』

　　ー 休憩 ー

14:20　国立研究開発法人 物質・材料研究機構 マテリアル基盤研究センター　永田 賢二 様
　        『ベイズ推定が拓くスペクトル解析とXPS計測への展開』

15:05　株式会社東レリサーチセンター 表面科学研究部　部長　鮫島 純一郎 様
　        『産業界における表面分析手法の活用事例』

　　ー 休憩 ー

16:15　広島大学 半導体産業技術研究所　所長　寺本 章伸 様
　        『半導体デバイスにおける薄膜の表面・界面分析』

17:00　閉会

　　　　懇親会

※ 進行によって時間は前後する可能性があります。